主營產品:鐵素體含量檢測儀鐵素體測試儀鐵素體測量儀鐵素體測定儀超聲波探傷儀色彩色差儀鋼筋掃描儀X射線測厚儀紫外線燈高溫耦合劑
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1980期头尾规律: 菲希爾x射線熒光鍍層厚度及ROSH檢測儀

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如果您對該產品感興趣的話,可以 產品名稱: 菲希爾x射線熒光鍍層厚度及ROSH檢測儀
產品型號: FISCHERSCOPE ? X-RAY XDV ? -SDD
產品展商: 德國菲希爾fischer
關注指數:38
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簡單介紹
菲希爾x射線熒光鍍層厚度及ROSH檢測儀/X-RAY射線光譜測厚儀/X射線分析儀FISCHERSCOPE ? X-RAY XDV ?-SDD是FISCHER產品中性能zui強大的X射線熒光儀器之一。菲希爾x射線熒光鍍層厚度及ROSH檢測儀XDV-SDD配備了特別加大的硅漂移探測器(SDD)。50mm2的探測器窗口確保能快速而精-確地測量甚至是小面積的測量點。此外,XDV-SDD儀器還配備了各種不同的濾波片,從而能為不同的測量任務建立*優化的激發條件。XDV-SDD可以測量含量低于1000ppm的如汞、鉛等有害金屬元素。

菲希爾x射線熒光鍍層厚度及ROSH檢測儀的詳細介紹

菲希爾x射線熒光鍍層厚度及ROSH檢測儀/X-RAY射線光譜測厚儀/X射線分析儀FISCHERSCOPE ® X-RAY XDV ®-SDD是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它特別適用于測量和分析超薄鍍層以及經行痕量分析。X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀,配有可編程運行的 X/Y 軸工作臺和 Z 軸升降臺,用于自動測量超薄鍍層厚度或進行痕量分析。

七星彩第2054期规律 www.zwujdl.com.cn FISCHERSCOPE ® X-RAY XDV ®-SDD特點:

配備了高性能的X射線管和大窗口的硅漂移探測器(SDD),能高精度地測量zui薄的鍍層

極耐用的設計結構,能以極出色的長期穩定性用于連續測量

可編程XY平臺和Z軸,用于自動化連續測量

擁有實時的視頻顯示和輔助激光點,使得樣品定位變得快速而簡便

FISCHERSCOPE ® X-RAY XDV ®-SDD應用:

1、鍍層厚度測量

測量極薄鍍層,如電子和半導體產業中厚度小于0.1umAuPd鍍層

測量汽車制造業中的硬質涂層

光伏產業中的鍍層厚度測量

2、材料分析

電子、包裝和消費品中按照RoHS, WEEE, CPSIA等指令對有害物質(如重金屬)進行鑒別

分析黃金和其他貴金屬及其合金

測定功能性鍍層的組分,如NiP鍍層中的P含量

 

菲希爾x射線熒光鍍層厚度及ROSH檢測儀/X-RAY射線光譜測厚儀/X射線分析儀FISCHERSCOPE ® X-RAY XDV ®-SDD典型的應用領域有:

?  分析超薄鍍層, 如:厚度≤ 0.1 μm Au Pd 鍍層

?  印刷線路板上 RoHS WEEE 要求的痕量分析

?  黃金成分分析

?  測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層

?  分析復雜的多鍍層系統

?  全自動測量,如:用于質量控制領域

為了使每次測量都能在zui理想的條件下進行, XDV-SDD 配備了各種可電動切換的準直器及基本濾片。先進的硅漂移接收器能夠提供很高的分析精度及探測靈敏度。由于有了大尺寸的準直器以及超高速脈沖處理器,儀器能處理非常高的計數率。

出色的準確性及長期的穩定性是 FISCHER X 射線儀器的共有特點,因此也大大減少了重新校準儀器的需要,為您節省時間和精力。由于采用了 FISCHER 的完全基本參數法,無論是鍍層系統還是固體和液體樣品,都能在沒有標準片的情況下進行準確分析和測量。

 

菲希爾x射線熒光鍍層厚度及ROSH檢測儀/X-RAY射線光譜測厚儀/X射線分析儀FISCHERSCOPE ® X-RAY XDV ®-SDD設計理念

XDV-SDD 設計為界面友好的臺式測量儀器。它配備了高精度、可編程運行的X/Y 軸工作臺和馬達驅動的 Z 軸升降臺。當具有防護功能的測量門開啟時,樣品臺能自動移出到放置樣品的位置。通過激光點,可以快速對準需要測量的位置。儀器內置帶有圖像放大及十字線功能的視頻系統,簡化了樣品放置的過程,并可對測量點位置進行精-確微調。所有的儀器操作,以及測量數據的計算和測量數據報表的清晰顯示,都可以

通過功能強大而界面友好的 WinFTM ® 軟件在電腦上完成。

FISCHERSCOPE ®  X-RAY XDV-SDD 型鍍層測厚及材料分析儀作為受完全?;さ囊瞧?,型式許可完全符合德國‘‘Deutsche R?ntgenverordnung-R?V‘‘法規的規定。

 

菲希爾x射線熒光鍍層厚度及ROSH檢測儀/X-RAY射線光譜測厚儀/X射線分析儀FISCHERSCOPE ® X-RAY XDV ®-SDD通用規范

1、用途:能量色散型 X 射線鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF) ,用來測量超薄鍍層、微小結構,合金元素的痕量分析。

2、可測量元素范圍:zui多可同時測定從鋁(13)到鈾(92)中的 24 種元素

形式設計:測量門向上開啟的臺式儀器,側面開槽設計;馬達驅動、可編程運行的 X/Y 軸工作和Z軸升降臺;馬達驅動、可切換的準直器和基本濾片;視頻攝像頭和激光點(1 級),用于樣品定位

3、測量方向:從上往下

 

菲希爾x射線熒光鍍層厚度及ROSH檢測儀/X-RAY射線光譜測厚儀/X射線分析儀FISCHERSCOPE ® X-RAY XDV ®-SDD其他規格參數:

1、X射線源

X 射線源:帶鈹窗口的微聚焦鎢管

高壓分三檔:10 kV,30 kV,50 kV

孔徑(準直器):標準(524-166):? 0.2 mm; ? 0.6 mm;? 1 mm;? 3 mm

可?。?/span>604-971):? 0.2 mm; 0.15X0.5 mm;0.05X0.3 mm;? 1 mm

可?。?/span>604-972):? 0.1 mm; ? 0.3 mm;? 1 mm;? 3 mm

基本濾片 6 個可切換的基本濾片(鎳;無;鋁 1000 μm;鋁 500 μm;鋁 100μm;密拉 ® 100μm

測量點尺寸 :取決于測量距離和孔徑大小,測量點尺寸約比孔徑大 10%,實際的測量區域大小與視頻窗口中顯示的相一致,zui小的測量點大小約為 ? 0.25 mm。

2、X射線的探測

射線接收器:采用珀耳帖法冷卻的硅漂移接收器

能量分辨率:≤140 eV (Mn 元素 Kα 線的半高寬)

測量距離:0 ~ 80 mm,使用專-利?;さ?/span> DCM 測量距離補償法

3、樣品定位

視頻系統:高分辨 CCD 彩色攝像頭,沿著初級 X 射線光束方向觀察測量位置;十字線(帶有經過校準的刻度和測量點尺寸),可調節亮度的 LED 照明;激光點(1 級)用于精-確定位樣品。

放大倍數:40x ---- 160x

聚焦:自動或手動聚焦功能

手動聚焦焦面范圍:0 ~ 80 mm

4、工作臺

形式設計:快速、可編程運行的 X/Y 軸工作臺(舌狀進樣功能)

可用樣品放置面積 :寬 x 深: 370 mm x 320 mm

樣品zui大重量 5 kg,如降低精度可達 20kg

樣品zui大高度 140 mm

zui大移動距離 X/Y 軸方向:250 mm x 250 mm;Z 軸:140 mm

X/Y 軸平臺zui快移動速度 60 mm/s

X/Y 軸平臺移動重復精度 :單向zui大誤差≤ 5 μm;一般誤差≤ 2 μm

5、電氣參數

電源要求 :交流 220 V 50 Hz

能耗 zui大為 120 W(不含計算機)

?;さ燃?/span> IP40

6、尺寸規格

外部尺寸:寬 x x [mm]660 x 835 x 720

重量 :大約為 140 kg

內部測量室尺寸 :寬 x x [mm]580 x 560 x 145

7、環境要求

使用時溫度:10 °C ---- 40 °C

存儲或運輸時溫度 0 °C ---- 50 °C

空氣相對濕度 :≤ 95 %,無結露

8、計算單元

計算機:Windows®-PC

軟件:標準:FISCHER WinFTM ®  BASIC 帶有 PDM ®  功能

可?。?/span>FISCHER WinFTM ®  SUPER

9、執行標準

CE 合格標準:EN 61010

X 射線標準:DIN ISO 3497 ASTM B 568

批準 :作為受完全?;さ囊瞧?,符合德國’’Deutsche R?ntgenverordnung-R?V‘‘法令的規定

10、訂貨號

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD  604-447

可按要求,提供額外的 XDV 型產品更改和 XDV儀器技術咨詢

其他測試儀器:超聲高溫耦合劑、鐵素體測試儀。



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