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广东11选五规律: 菲希爾x-ray熒光光譜儀

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如果您對該產品感興趣的話,可以 產品名稱: 菲希爾x-ray熒光光譜儀
產品型號: FISCHERSCOPE ?X-RAY XDL ?230
產品展商: 德國菲希爾fischer
關注指數:234
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簡單介紹
菲希爾x-ray熒光光譜儀/X射線測厚儀/光譜測厚儀/射線鍍層檢測儀FISCHERSCOPE ?X-RAY XDL ?230是德國菲希爾fischer公司XDL系列機型中性價比*高的一款,相比XDL-210*主要的優勢在于X軸和Y軸方向可以手動調節,大大方便了測量的便捷性。菲希爾x-ray熒光光譜儀XDL-230還可以通過可編程XY工作臺與Z軸(可?。┦迪腫遠吶坎饈?。XDL-230菲希爾x-ray熒光光譜儀以優異的性能被選為國內各省電科院/國家電網技能比武指定使用機型。

菲希爾x-ray熒光光譜儀的詳細介紹

七星彩第2054期规律 www.zwujdl.com.cn 菲希爾x-ray熒光光譜儀/X射線測厚儀/光譜測厚儀/射線鍍層檢測儀FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析,同時還能檢測大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230射線熒光儀器可配備多種硬件組合,可完成各種測量任務,由于測量距離可以調節(*大可達 80 mm),適用于測試已布元器件的電路板或腔體結構的部件。使用具有高能量分辨率的硅漂移探測器,非常適用于測量超薄鍍層(XDAL 設備)。



菲希爾x-ray熒光光譜儀/x射線測厚儀/光譜測厚儀/射線鍍層檢測儀FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230設計理念:

1,FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款用戶界面友好的臺式測量儀器。手動操作的X-Y工作臺,馬達驅動的 Z 軸系統。

2,高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能,可以精-確定位測量位置。通過視頻窗口,還可以實時觀察測量過程和進度。

3,測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設計,由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如:大型的印制電路板。

4,帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品擺放,并且允許測量點的精-確調整。

5,所有的儀器操作,以及測量數據的計算和測量數據報表的清晰顯示,都可以通過功能強大而界面友好的 WinFTM ® 軟件在電腦上完成。

6,XDL 型鍍層測厚及材料分析儀作為受完全?;さ囊瞧?,型式許可完全符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V”法規的規定。



菲希爾x-ray熒光光譜儀/x射線測厚儀/光譜測厚儀/射線鍍層檢測儀FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230基本應用:

1,鍍層厚度測量

大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量

電路板上較薄的導電層和/或隔離層

復雜幾何形狀產品上的鍍層

鉻鍍層,如經過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品

氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質涂層厚度測量

2,材料分析

電鍍槽液分析

電子和半導體行業中的功能性鍍層分析


菲希爾x-ray熒光光譜儀/x射線測厚儀/光譜測厚儀/射線鍍層檢測儀FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230特別適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控,典型的應用領域有:

?  測量大規模生產的電鍍部件

?  測量超薄鍍層,例如:裝飾鉻

?  測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層

?  測量印刷線路板

?  分析電鍍溶液

XDL230 有著良好的長期穩定性,這樣就不需要經常校準儀器。比例接收器能實現高計數率,這樣就可以進行高精度測量。由于采用了 FISCHER 完全基本參數法,因此無論是對鍍層系統還是對固體和液體樣品,儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。



菲希爾x-ray熒光光譜儀/x射線測厚儀/光譜測厚儀/射線鍍層檢測儀FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230規格概述:

1、通用規格

  a,設計用途:能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF), 用于測定超薄鍍層和溶液分析。

  b,元素范圍:從元素 氯(17) 到 鈾(92),配有可選的 WinFTM® BASIC 軟件時,*多可同時測定 24 種元素。

  c,設計理念  臺式儀器,測量門向上開啟

  d,測量方向  由上往下

2、X射線源

  a,X 射線管:帶鈹窗口的鎢管

  b,高壓:三檔30 kV,40 kV,50 kV

  c,孔徑(準直器):? 0.3 mm 可?。? 0.1 mm; ? 0.2 mm;長方形 0.3 mm x 0.05 mm

  d,測量點尺寸:取決于測量距離及使用的準直器大小,實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的一致*小的測量點大小約? 0.2mm

3、X射線探測

  X 射線接收器:比例接收器

  測量距離:0 ~ 80 mm,使用磚利?;さ?DCM 測量距離補償法

4、樣品定位

  a,視頻系統:高分辨率CCD彩色攝像頭,沿著初級X射線光束方向觀察測量位置,手動聚焦,對被測位置進行監控,十字線(帶有經過校準的刻度和測量   點尺寸),可調節亮度的LED照明,激光光點用于精-確定位樣品。

  b,放大倍數:40x–160x

5、電氣參數

  電源要求:220 V ,50 Hz

  功率:*大 120 W(不包括計算機)

  ?;さ燃叮篒P40

6、尺寸規格

  外部尺寸:寬×深×高[mm] 570×760×650

  內部測量室尺寸:寬×深×高[mm] 460×495x(參考“樣品*大高度”部分的說明)

  重量:107 kg

7、環境要求

  使用時溫度:10°C – 40°C

  存儲或運輸時溫度:0°C – 50°C

  空氣相對濕度:≤ 95 %,無結露

8、工作臺

  設計:手動 X/Y 平臺

  X/Y 平臺*大移動范圍:95 x 150 mm

  可用樣品放置區域:420 x 450 mm

  Z 軸:馬達驅動

  Z 軸移動范圍:140 mm

  樣品*大重量:20kg

  樣品*大高度:140 mm

  激光(1 級)定位點:有

9、計算單元

  a,計算機:帶擴展卡的 Windows ® 計算機系統

  b,軟件:標準: WinFTM ® V.6 LIGHT、可?。?WinFTM ® V.6 BASIC,PDM,SUPER

  10、執行標準

  a,CE合格標準:EN 61010

  b,型式許可:作為受完全?;さ囊瞧?,型式許可完全符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V”法規的規定。



菲希爾x-ray熒光光譜儀/x射線測厚儀/光譜測厚儀/射線鍍層檢測儀FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230訂貨號:

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230  604-496

如有特殊要求,可與FISCHER 磋商,定制特殊的XDL型號。

FISCHERSCOPE ® ; XDL ® ; WinFTM ® ; PDM ® 是 Helmut Fischer GmbH Institut für Elektronik und Messtechnik, Sindelfingen–Germany的注冊商標。

其他檢測儀器:瑞典蘭寶紫外線燈、鐵素體含量檢測儀。


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